机译:具有Si / Ge超晶格沟道和带间隧穿引起的热电子注入的p沟道电荷陷阱闪存器件的性能增强
机译:使用带间隧道隧穿感应热电子(BBHE)编程的0.35 / spl mu / m P通道DINOR闪存的器件特性
机译:p通道带隙工程SONOS(BE-SONOS)的带间隧穿热电子(BBHE)编程特性的研究
机译:使用无结p沟道器件和带间隧穿引起的热电子编程的新型位可变3D NAND闪存
机译:非等温设备中热电子和ESD引起的退化的统计模型。
机译:用于NAND闪存设备的压缩辅助自适应ECC和RAID分散
机译:siGe沟道和HfO2隧道介质在p沟道闪光中增强带间隧穿引发的热电子注入