Perfilometro compacto basado en triangulacion laser activa con luz estructurada

摘要

Para muchas aplicaciones, en la industria se observa una creciente demanda de nuevas y mas precisas tecnicas para caracterizar el estado superficial de componentes logrando tener un conocimiento preciso de su acabado o de su textura. Dichas tecnicas deben ser no destructivas ni invasivas, poseer alta sensibilidad y precision y ser capaces de relevar el perfil de muestras en tiempo real. Cumpliendo con la mayoria de los requisitos antes mencionados, la triangulacion laser activa con luz estructurada es una de las tecnicas mas adecuadas ya que puede ser utilizada en cualquier tipo de superficie reflectora u opaca, independiente de su grado de dureza. El metodo a realizar es una asociacion de la triangulacion optica, utilizando como fuente luminosa luz laser estructurada. El Laboratorio de Optica y Laser de la CNEA (LOL) ha disenado y montado un perfilometro optico compacto basado en la triangulacion laser activa. Este perfilometro permite relevar el perfil 3D de muestras con alturas comprendidas entre los 5μm y 200μm. En este trabajo se muestra el nuevo microtopografo laser disenado y montado en el LOL, sus alcances y limitaciones.