Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeintrachtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen

摘要

Die Bestimmung des Risikos eines Systems vor bewusst hervorgerufenen elektromagne-tischen Beeinflussungen (engl.: intentional electromagnetic interferences, kurz: IEMI) ist eine anspruchsvolle Aufgabe, da das Risiko individuell fur jede Untersuchung entsprechend dem gewahlten Szenario ermittelt werden muss. Zudem wachst nach Radasky, Baum und Wik die Bedrohung fur solche Attacken, weshalb eine intensivere Auseinandersetzung mit dem IEMI Risiko angestrebt werden muss.