首页> 外文会议>応用物理学会秋季学術講演会 >シリコン酸化膜を用いたシリコン量子ドット積層構造における構造?電気的特性評価
【24h】

シリコン酸化膜を用いたシリコン量子ドット積層構造における構造?電気的特性評価

机译:硅氧化膜硅量子点夹层结构中的结构。电学表征评价

获取原文

摘要

単接合型シリコン結晶太陽電池は理論限界効率に近づきつつあり,さらなる高効率化へのアプローチとして,タンデム型太陽電池が検討されている.我々は,その中でも無毒で資源が豊富なシリコンのみを用いたオールシリコンタンデムセルへの応用へ向け,シリコン量子ドット(Si-QD)を利用する研究を行っている.Si-QD は量子サイズ効果によるバンドギャップチューニングが可能であり,トップセル材料として利用可能である.本研究ではパッシベーション効果の高いSiO_x をバリア層に用いてSi-QD 積層構造を作製した.前回,Si-QD 積層構造の構造?光学特性評価および量子サイズ効果の確認を報告したが,電気的特性は未評価であった.今回は構造?電気的特性の評価を行った結果を報告する.
机译:单一结型硅晶体太阳能电池接近理论极限效率,效率更高串联型太阳能电池被认为是一种方法我们是无毒的仅使用仅使用资源丰富的硅硅,以应用于所有二氧化硅TatetateMasel,使用小量子点(Si-QD)进行研究。 Si-QD是一辆由量子尺寸效果的面包车DE GAP调谐是可能的,可用作顶部细胞材料。在这项研究中使用SiO_x使用具有高钝化效果的Si-QD层压结构作为阻挡层。上次,Si-QD层压结构的结构。我们报道了光学特性评估和量子尺寸效应的确认,但电气性别没有评估。这次,我们报告了评估电气特性结构的结果。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号