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残光性 ZrO2の結晶構造が準安定状態の緩和機構に及ぼす影響

机译:残余ZrO2晶体结构对亚稳态变质机理的影响

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摘要

蛍光体の発光寿命は発光中心としての役割を担うイオン種などによって異なり、通常ナノ~ミリ秒 のオーダーである。しかし、残光体もしくは畜光体と呼ばれる一部の蛍光体群は励起光源から遮断後数秒以 上、長いものでは十数時間もの間発光し続ける。この残光と呼ばれる現象は励起されたキャリアの一部が準 安定な準位へと一時的に捕獲された後、熱的な励起によって徐々に解放されることで発現することが実験的 に確かめられているが、準安定状態に関する知見は未だに不足しており、残光メカニズムの解明に対する課 題となっている。通常の蛍光体における発光寿命は主に遷移過程および発光中心の遷移確率によって決まる が、残光体では準安定状態の活性化エネルギーおよびトラップサイトから発光中心への遷移確率が支配的に 影響すると思われる。準安定状態の特定がなされない限りトラップサイト-発光中心間の遷移確率を理論的 に計算することはできないため、実測値から導出する必要がある。Hoogenstraatenは遷移確率の情報をトラッ プ解放の頻度因子へと組み込み、いくつかの仮定を基に活性化エネルギーを決定する方法を提案している。
机译:根据离子类型或负责发光中心等荧光体不同的发光寿命,通常为纳米到毫秒级。然而,一些被称为残余物或家畜photodes荧光团继续从激发光源封闭后发光几秒钟,和十倍以上。称这种剩余光的现象是实验上由热激发激发载体的一部分之后被逐渐释放来表示暂时捕捉到亚稳态的水平。虽然仍有约亚稳态知识不足,它已成为一个问题残余光学机构的阐明。虽然在正常的荧光体的发光寿命主要由过渡过程和发光中心的转换概率来确定,残余体似乎支配从亚稳活化能和陷阱位点到发光中心的转移概率。这是可能。除非在亚稳状态识别,无法计算陷阱位点的光发射中心的过渡概率被理论计算,其需要从所测量的值导出。 Hoogenstraaten提出掺入转换概率信息到陷阱释放的频率和基于一些假设确定活化能的方法。

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