机译:[SUS304ULC / Ta / Zr爆炸桥接头的氢脆研究系列]“ Ta / Zr接头界面的氢脆开裂特征和Zr母材的氢脆机理”“ Ta / Zr接头界面的氢脆”各种影响结晶的因素“” Ta / Z在水下抛光过程中“界面处的氢脆破裂现象和氢脆化机理”“ Ta / Zr界面处氢扩散和氢化物沉淀的计算机模拟”“ Ta防止Zr / Zr键合界面氢脆的施工准则的建议”
机译:与储氢合金层的储氢/释放有关的膨胀/收缩现象对层的有效导热率估计值的影响
机译:储氢合金层相关膨胀和收缩现象对层的有效导热率的估计值
机译:(P0113)在氢气平原储存对氢释放过程中的氢释放过程中的物理分离在氢气释放过程中的影响
机译:氢封端的Si(111)-(1×1)表面Fe薄膜生长初期的微观结构和局部电子态的研究
机译:储氢合金中氢的渗透机理-聚焦于储氢过程中晶格缺陷的形成