核破砕中性子照射した F82H 及び T91 の損傷組織の照射量依存性と等時焼鈍挙動の陽電子消滅分光法による検出

摘要

核融合炉や核破砕中性子源の構造材料として低放射化フェライト鋼の利用が検討されている。これら実用鋼のボイド形成の潜伏期間は純金属やモデル合金よりも長く、その期間中は電子顕微鏡では空孔型欠陥を検出することが不可能である。その潜伏期間にどのような過程でボイドやバブルの形成?成長が起こっているかを解明することは、材料のボイド形成を抑制するためにとても重要である。そこで、本研究ではフェライト?マルテンサイト鋼F82HとT91のボイド形成の潜伏期間中の点欠陥反応を陽電子消滅分光法によって調べることを目的とした。