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PtC/C 多層膜を用いた硬X 線集光用ミラーの反射率改善

机译:使用PTC / C多层膜改善硬X射线收集镜的反射率

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摘要

X 線顕微鏡は,X 線の短波長性,高い透過性といった特徴を生かし,光学顕微鏡や電子顕微鏡では観察不可能な,試料の内部構造をナノメートルスケールで観察できる計測手法である.近年,高ピーク輝度,フルコヒーレント,超短パルスという特徴を有するX 線自由電子レーザー(X-ray free electron laser)のようなX 線光源の進歩及び,X 線光学素子の高性能化に後押しされ,数十nm 分解能での計測が可能となっている.そのX 線顕微技術の性能向上を図る上で,微細集光を実現する多層膜集光ミラーは最も有効な集光光学素子である.多層膜とは,重元素と軽元素を交互に積層させた周期的構造を有するものである.我々のグループは,密度差が大きく対象エネルギー域に吸収端を持たない上,化学的に安定な特徴を有するPt/C 多層膜を用いて7nm の微細集光に成功した.しかし,得られた反射率は理論値に比べてまだ十分ではない.多層膜の反射率は薄膜の表面および界面粗さに大きく影響され,周期長が短いほどその影響は大きくなる.その粗さの原因として最も重要で制御が困難なものが,金属層において結晶化しようとする状態の変化が生じることである.一方で,金属は,B, C, P, Si, Ge などのような非金属または半金属との組合せでアモルファス化をいっそう促進する特徴がある.そのため我々はPt 層の成膜中の結晶化による界面粗さを減らすためにPt 層にC を添加したPtC/C 多層膜を作製し評価を行った.
机译:X射线显微镜是可以观察到纳米级的样品,其可以在光学显微镜和电子显微镜观察的内部结构,拍摄X射线的短波长和高磁导率的优点的测量方法。近年来,在X射线光源,诸如X射线自由电子激光器(X射线自由电子激光),其具有高的峰值亮度,fluco英雄,超短脉冲,和X射线的高性能的进步光学器件。这是可能具有几十纳米的分辨率来测量。为了提高X射线显微术的性能,即实现细冷凝的多层膜反射镜浓缩是最有效的聚光光学元件。一种多层薄膜,具有周期性结构,其中,重元件和光元件被交替地堆叠。我们小组已经成功地细使用具有化学稳定的特性的Pt / C多层膜为7nm冷凝,后的密度差主要是在目标能量区域。不过,相较于理论值获得的反射率尚不充分。该多层膜的反射率是由薄膜的表面和界面的粗糙度,而较短的周期长度,较大的影响极大影响。这是一个是最重要的,难以控制作为粗糙度的原因产生的状态变化在所述金属层结晶。在另一方面,金属的特征在于,非金属或组合半metallogens例如B,C,P,Si,Ge和类似物并进一步促进非晶化。因此,我们做了和评价,其中C加入Pt层,以减少在Pt层的膜形成通过结晶界面粗糙度的PTC / C多层膜。

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