机译:TCAD和EM共仿真方法,以验证SiGe HBT测量高达500 GHz
机译:SiGe HBT在TCAD模拟和激光微束实验中的单事件响应
机译:缩放SiGe HBTS中碰撞电离引起的混合模式应力的特征和TCAD建模
机译:高性能SiGe HBT的TCAD仿真的实验验证
机译:SOI设备低功耗,高频横向SiGE HBT的优化TCAD模拟
机译:现实的铅轨迹的数值模拟和实验验证支持并行射频传输减少MRI期间深部脑刺激植入物发热的功效
机译:基于桌面模型的SiGe HBTS一致的流体动力学和Monte-Carlo模拟弛豫时间