Modulation; Electrostatic discharges; Layout; Leakage currents; Logic gates; Robustness;
机译:大角度倾斜和纯垂直注入的精确建模:在n-和p-LDMOS背栅仿真中的应用
机译:通过60V p通道LDMOS电源组件中的大接触调制实现的鲁棒可靠性和电气性能
机译:(n-k + 1)-n-of-n个具有相关组件的系统的剩余寿命和过去寿命的随机比较
机译:通过批量调制对HV n- / p-LDMOS组件进行ESD改善比较
机译:n-和p-掺杂的电气传输性能:散装晶体与剥离层
机译:基于SSR分析和特定长度扩增片段测序的大分子分离分析法对大麦阶段绿色可逆白化基因(HvSGRA)进行表征和精细定位
机译:高速公路中HVSR和HVSRN方法获得的现场效应值的比较。
机译:n型和p型假晶调制掺杂场效应晶体管的能带结构和电荷控制研究