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【24h】

Strukturauflosung in der Koordinatenmesstechnik

机译:坐标测量的结构发展

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摘要

Koordinatenmessgerate (KMG) werden zur Messung allgemeiner dreidimensionaler Oberflachen eingesetzt. In der einschlagigen Normung wird die Strukturauflosung als ein wichtiger Begriff zu ihrer Leistungsbewertung eingefuhrt, aber bisher nicht genau definiert. In diesem Beitrag wird zuerst beschrieben, wozu man diese - auch gerade im Hinblick auf Form- und Konturmessung - benotigt und was bisher der Stand von Normung und Technik ist. Ein kurzlich von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) veroffentlichtes Konzept, dass auf einer krummungsbasierten Beschreibung basiert, wird vorgestellt und anhand praktischer Messungen mit taktilem Taster, optischem Sensor und Rontgencomputertomographie (CT) veranschaulicht.
机译:坐标测量装置(CMM)用于测量一般的三维表面。在罢工标准化中,将结构分辨率作为其性能评估的重要术语引入,但不完全定义。本文首先介绍了哪一个 - 即使在表格和轮廓测量方面也是 - 以及以前的标准化和技术的立场。由Psealikalisch-Technische BundeSanstalt(PTB)发布的概念,其基于划衡的描述,并通过实际测量用触觉按钮,光学传感器和rontgen计算机断层扫描(CT)来呈现和说明。

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