机译:PNO p-MOSFET中NBTI应力产生的界面陷阱和空穴陷阱组件的隔离
机译:32-NM高级过程高k P-MOSFET设计和工艺参数对负偏置温度不稳定性的影响及缺陷研究
机译:使用测量和原子模拟了解HKMG p-MOSFET中空穴陷阱和NBTI的工艺影响
机译:不同NBTI缺陷组分对高k P-MOSFET子阈值操作的影响
机译:高k /硅和高k /砷化镓栅极结构中的缺陷和键合结构。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
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