首页> 外文会议>精密工学会大会学術講演会 >エアーバッグ方式の研磨ヘッド構造を考慮したCMPプロセスのEHL解析
【24h】

エアーバッグ方式の研磨ヘッド構造を考慮したCMPプロセスのEHL解析

机译:考虑气囊型抛光头结构CMP工艺的EHL分析

获取原文

摘要

半導体デバイス製造におけるCMP工程では研磨量の高精度な制御が要求される.このため,研磨レートの優れた制御性と経時安定性を実現するための,要素技術や装置技術の研究·開発が進められている.プロセス解析技術はこれらの研究·開発を行う上で有効な援用ツールとして活用が期待されている.CMPプロセスにおける研磨レートを精度良く推定するには研磨圧力の分布を求める必要があり,これには研磨ヘッドの構造,各要素の幾何形状や動的な運動,非線形な材料特性など,影響を及ぼす様々な要因を考慮する必要がある.本研究では,一般に量産工程で利用されるエアーバッグ方式の研磨ヘッドの構造を考慮するとともに,ウェハ等の各構成要素の接触問題を考慮する構造解析モデルを構築し,高精度な研磨プロセス解析技術の確立を目指す.ここでは,ALE有限要素法を適用することで動的な問題を取り扱うとともに,研磨パッドの非線形粘弾性,流体潤滑問題を同時に考慮する.開発したEHL解析シミュレータを用いて研磨プロセスの解析を行い,研磨ヘッドの形状やスラリの流体圧力が研磨圧力分布に及ぼす影響について考察する.
机译:在半导体器件制造中的CMP过程中,需要高精度控制抛光量。因此,正在进行元素技术和设备技术的研发以实现抛光率的优异可控性和老化稳定性。过程分析技术预计将被用作执行这些研究和开发的有效工具。为了精确地估计CMP工艺中的抛光速率,需要抛光压力的分布,这影响了抛光头的结构,每个元素的几何形状,动态运动,非线性材料特性等。需要考虑各种因素。在这项研究中,我们通常考虑批量生产过程中使用的气囊抛光头的结构,并构建结构分析模型,以考虑晶片等每个部件的接触问题,以及高精度抛光过程分析技术目标建立这里,通过应用ALE有限元方法,处理动态问题,并且同时考虑抛光垫的非线性粘弹性和流体润滑问题。使用开发的EHL分析模拟器进行抛光工艺的分析,以及抛光头的形状和浆料的流体压力对抛光压力分布的影响。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号