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ナノバブル圧壊時に生じるジェット流が半導体基板に及ぼす影響の分子動力学シミュレーション

机译:半导体基板纳米柔臼粉碎过程中喷射流动影响的分子动力学模拟

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摘要

SiやSiC,GaNといった半導体材料は,広いバンドギャップや高い破壊電界強度といった優れた特性を持つためパワー半導体のデバイス材料として注目を集めている.パワー半導体においてより高い性能を発現させるためには,無欠陥かつ原子レベルで平坦な表面をもつウェハが必要である.高い表面平滑性を持つウェハを得るため,化学機械研磨(CMP)と呼ばれる化学的作用と機械的作用を利用した精密研磨プロセスが用いられている.しかしSiCやGaNといった材料では高硬度かつ高い化学的安定性を有しているためウェハ表面の精密研磨プロセスに多くの時間がかかるという問題がある.そのため,高硬度な材料でのCMPプロセスにおける研磨速度の向上が求められている.そこで我々のグループでは,高硬度な材料における研磨速度の向上に役立つことが期待されているナノバブルに着目した[1].実験より,ナノバブルは衝撃波を加えて圧壊させることで,衝撃波の伝播方向にナノジェットと呼ばれるジェット流を生じることが報告されている[2].そのため,我々は圧壊現象により生じるナノジェットがCMPプロセスにおける研磨速度の向上に効果的であり,現象を解析することが今後の高硬度材料でのCMPプロセスにおける研磨速度向上につながると考えた.圧壊現象による半導体基板への影響は,より低硬度な基板を用いた場合により顕著に現れると考えられる.そこで本研究では,SiCやGaNと比較して低硬度であるSi基板を選択し,ナノバブルの圧壊現象が基板の構造変化に与える影響を解析するため,衝撃波を用いて基板近傍でナノバブルを圧壊させる分子動力学シミュレーションを行った.
机译:如Si,SiC和GaN的半导体材料是作为功率半导体的器件材料的关注,因为它们具有优异的特性,例如宽带间隙和高损阻的电场强度。为了表达功率半导体的更高性能,需要没有缺陷和原子水平的晶片。为了获得具有高表面平滑度的晶片,使用称为化学机械抛光(CMP)的化学作用和使用机械作用的精确抛光工艺。然而,由于SiC和GaN的材料具有高硬度和高化学稳定性,因此存在晶片表面的精密抛光过程需要更多时间的问题。因此,需要具有高硬度材料的CMP工艺中的抛光速度的提高。因此,我们的团体专注于纳米骨库,预计有助于提高高硬度材料的抛光速度[1]。从实验中,据报道,纳米泡制通过添加冲击波[2]来在冲击波的传播方向上创建称为Nanodet的射流。因此,我们认为由破碎现象引起的Nanodet在提高CMP工艺中的抛光速率方面是有效的,并且分析现象导致在未来高硬度材料中提高CMP工艺中的抛光速率。当使用较低的硬度基板时,更明显地显着出现通过破碎现象对半导体衬底对半导体衬底的影响。因此,在本研究中,与SiC和GaN相比,选择是低硬度的Si衬底,并且使用冲击波压碎纳米柔臼压碎现象,以分析基板的结构对底物的影响基材的结构变化。进行分子动力学模拟。

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