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光ファイバプローブを用いた微細三次元形状精度測定システムの開発―スタイラス小径化の検討

机译:光纤探头的精细三维形状精度测量系统的开发 - 触针小直径

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摘要

近年の微細加工技術の進歩に伴い,微細形状を測定する重要性は増加している.特に,微細金型やMEMS (Micro Electro Mechanical Systems),マイクロマシン等のマイクロ部品,各種ノズル穴,光通信機器,医療機器などの微細形状の測定技術が各機器の高機能化のために要望されており,これまでに各種方法が提案されている.本研究では,微小径で高アスペクト比形状が容易に製作できる光ファイバをスタイラスとして使用した測定原理を提案する.前報では,接触子直径が5μmのスタイラスを用いた測定システムを試作し,プローブ性能評価を目的とした各種基礎実験結果および微細形状測定結果について報告した.本報ではFDTD (Finite Difference Time Domain)法による光学シミュレーションを用いることで,本システムで使用可能なスタイラス最小径の検討結果,およびウェットエッチングによる直径1μm以下の極小径スタイラス製造の実験結果について述べる.
机译:随着微型制造技术的进步近年来,测量显微镜的重要性正在增加。特别地,微观混合状测定技术,如微金,MEMS(微机电系统),微机器,以及各种喷嘴孔,光通讯设备,医疗设备等需要为每个设备而不同的方法的高功能迄今已提出。在这项研究中,我们提出使用光纤,可以容易地制造具有高纵横比的形状与微直径的测量原理。在前面的报告中,我们使用原型具有5μm的接触直径的触针的测量系统,并报道了多种基本的实验结果和探头性能评价的目的显微测量的结果。该报告由时域有限差分方法使用光学仿真描述了一种具有直径的通过湿法刻蚀1微米或更小的触笔最小直径的研究的在本发明的系统可用,结果小直径触笔生产的实验结果。

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