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Robuster anaoger Schaltungsentwurf fur Sub-100nm Prozesstechnologien mittels statistischer Methoden

机译:使用统计方法的Sub-100 NM工艺技术的鲁棒模拟电路设计

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摘要

Dieser Beitrag diskutiert einen alternativen Weg, Qualitat und Ausbeute von Analogschaltungen in kunftigen Low-Cost Prozessen zu verbessern. Am Beispiel eines 1024-stufigen digitalen Potentiometers wird demonstriert, wie mittels eines speziellen Entwurfsansatzes die storenden Auswirkungen der vorhandenen Parameterschwan-kungen auf die Schaltungsfunktion verringert werden konnen. Es wird erwartet, dass sich dieser Ansatz auch auf andere Bereiche der HF- und Analogschaltungstechnik ubertragen lasst. Im Vergleich zur konventioneller Schal-tungstechnik, der die relative Zunahme der Prozessschwankungen erhebliche Probleme bereitet, sind einige spezielle, bisher wenig beachtete Schaltungstopologien in der Lage diese Schwankungen zu Lasten der Schaltungs-komplexitat in einen Gewinn an Genauigkeit einzutauschen. Das vorgestellte Beispiel, ein digitales Potentiometer, erreicht ohne Kalibrierung in einem 65nm CMOS Prozess eine Linearitat von 10 Bit im kompletten Tempera-turbereich von -40 bis 135 °C. Die ersten Messergebnisse enthalten genugend Hinweise, um bei Bedarf eine wei?tere Verbesserung mindestens um den Faktor 4 in Richtung 12 Bit zu ermoglichen.
机译:本文讨论了在原始低成本过程中提高模拟电路的质量和产量的替代方法。使用1024级数字电位器的示例,证明了如何将特殊的设计方法减少到电路功能上现有参数天鹅kungen的存储效果。预计该方法也被转移到RF和模拟电路技术的其他领域。与传统的缩放技术相比,这对过程波动的相对增加导致了显着的问题,一些特殊的,以前并不是考虑的电路拓扑能够以准确性的增益以电路复杂性为代价交换这些波动。所呈现的示例,在65nm CMOS中无需校准实现的数字电位器,在完全温度范围的-40至135℃的完全温度范围内的线性度为10位。第一测量结果包含巨大指令,以允许在12比特的方向上至少更好地改善4倍。

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