dielectric constant; gold film; SPR; Winspall simulator;
机译:基于SPR相检测通过模拟退火粒子群优化测定薄金属膜的厚度和光学常数
机译:使用原位X射线衍射技术调节金-聚吡咯复合纳米管中的巨大介电常数
机译:SPR技术在气敏应用中SnO2薄膜的介电性能
机译:SPR技术测定介电常数和金膜厚度
机译:脉冲反应直流磁控溅射技术制备的高介电常数薄膜的沉积和表征。
机译:薄膜技术漫射梯度在预浓度中的热分解金胺胺胺化原子吸收光谱法测定鱼酱中的汞
机译:基于SPR曲线的介电常数和聚合物薄膜厚度的测定