首页> 外文会议>IEEE International Conference of Electron Devices and Solid-State Circuits >Nano-scale leakage characterizations of the #x03B3;-APTES/ silica nanoparticles bionanocomposite
【24h】

Nano-scale leakage characterizations of the #x03B3;-APTES/ silica nanoparticles bionanocomposite

机译:γ-Aptes /二氧化硅纳米粒子二酮多种复合材料的纳米尺度泄漏表征

获取原文

摘要

This work proposes the nano-scale leakage characterizations for post-UV irradiated membrane of a polydimethylsiloxane (PDMS)-treated hydrophobic fumed silica nanoparticles (NPs) and 3-aminopropyltriethoxysilane mixture (γ-APTES+NPs+UV) by conductive atomic-force-microscopy (C-AFM). We found the leakage characterizations of the γ-APTES+NPs+UV are similar to those of dielectric material. Our results show that prolonged UV illumination (120s) and 100: 1 γ-APTES/ silica NPs mixing ratio result in the lowest leakage current and highest breakdown voltage.
机译:该工作提出了通过导电原子力 - 纳米甲基硅氧烷(PDMS) - 治疗疏水性疏水性含二氧化硅(NPS)和3-氨基丙基三乙氧基硅烷混合物(NPTES + NPS + UV)的纳米尺度泄漏表征。通过导电原子力 - 显微镜(C-AFM)。我们发现γ-aptes + nps + UV的泄漏表征类似于介电材料的泄漏表征。我们的结果表明,延长的紫外线照明(120s)和100:1γ-aptes /二氧化硅混合比率导致漏电流最低和最高击穿电压。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号