Unified reliabity model (URM); Hydrogen transport; NBTI; SILC; RTS; Noise; Mobility; Trapped electron;
机译:基于统一的表面电势区域建模的MOSFET紧凑型零温度系数建模方法
机译:超薄双栅MOSFET的统一量子和可靠性模型
机译:具有故障检测概率,不完善的调试和变更点的基于覆盖率的软件可靠性增长模型测试的统一方法
机译:MOSFET可靠性建模的统一方法
机译:使用原子和器件仿真对4h碳化硅功率MOSFET的可靠性和性能进行集成建模。
机译:使用双层门绝缘子在GaN-on-Si垂直沟槽MOSFET中:对性能和可靠性的影响
机译:SiC和CoolMOS功率MOSFET中的双极闩锁的紧凑电热可靠性建模和实验表征