Gelamp; #x2019; fand-Levitan method; Permittivity profile reconstruction; minimization problem; reflectometry; spectrum extrapolation;
机译:一维电容剖面重建方法的比较:实际测量数据处理
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机译:电子密度剖面数据的电离层垂直测深分析II。在hmaxF2以上观察到的观察到的电子密度分布