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High Resolution and Contrast X-Ray for 3D Package Development - (PPT)

机译:用于3D封装开发的高分辨率和对比X射线 - (PPT)

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摘要

Through silicon vias are successfully studied using x-ray tomography technique. High-resolution images allow observation of voids in the vias in detail. Large field of views enables investigation of vias in high-throughput. Tomographic imaging and virtual slices show the shape of the void in 3D.
机译:通过硅通孔通过X射线断层扫描技术成功研究。 高分辨率图像允许详细观察VIOS中的空隙。 大领域的视野使得能够在高吞吐量中调查vAI。 断层摄影成像和虚拟切片显示了3D中的空隙的形状。

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