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ライン状半導体レーザによる曲げ加工--パルスレーザ曲げにおける試料条件の影響

机译:通过线状半导体激光器弯曲处理 - 样品条件下脉冲激光弯曲的效果

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摘要

レーザを熱源とした線状加熱によるレーザ曲 げ加工には TGM(TemperatureGradient Mechanism),BM(BucklingMechanism),UM(Upsetting Mechanism)の3種のメカニズムがある1).TGMは温度勾配による曲げなのでレーザ照射側に曲がる.それに対してBMは,レーザ照射点の板厚方向に対して温度差がほとhど生じない場合に,板表面の温度分布により座屈が生じる現象であり,特に試料が薄板の場合顕著である2).BMにおいては試料作業条件によって曲げ方向に影響が出る3).
机译:用激光作为热源的激光烘烤具有三种TGM(高温机构),BM(屈服机制),UM(镦粗机制)1)机制。由于TGM被温度梯度弯曲,因此它弯曲到激光照射侧。另一方面,BM是由于在温度差不在激光照射点的厚度方向时,由于板表面的温度分布而导致屈曲导致屈曲的现象,并且当样品薄时,样品特别明显。2)。在BM中,弯曲方向受样本工作条件的影响。

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