Germanium; Zirconia; Rutherford backscattering; Interfaces;
机译:使用计算机断层扫描技术对Si基半导体中的氧化物-氮化物-氧化物层界面进行高分辨率的三维扫描透射电子显微镜表征。
机译:使用计算机断层扫描技术对硅基半导体中的氧化物-氮化物-氧化物层界面进行高分辨率三维扫描透射电子显微镜表征
机译:光子辐照对半导体衬底上生长的掺钇的氧化锆薄膜结构的影响
机译:使用离子散射对氧化钇掺杂的氧化锆/半导体界面进行高分辨率表征
机译:窄带隙半导体上原子层沉积的高k电介质的界面表征。
机译:布里渊光散射在深Bi2Te3-半导体界面处的电子-声子相互作用
机译:一氧化碳在直接势垒放电和氧化钇稳定的氧化锆薄层的界面处的氧化:放电特性的表征和反应速率的确定
机译:半导体界面的高分辨率Z对比成像的模拟和量化。