two-dimensional grating; magnification standard; optical diffractometer; metrological atomic force microscope;
机译:可追溯X射线衍射仪与计量原子力显微镜之间25 nm的间距比较
机译:使用计量原子力显微镜测量纳米计量学中的显微镜校准标准
机译:通过主动温度控制的可追溯原子力显微镜和激光衍射仪进行螺距校准
机译:使用光学衍射仪和计量原子力显微镜校准二维纳米光栅
机译:用硅原子台阶工件校准原子力显微镜。
机译:原子力显微镜悬臂抗弯刚度校准:迈向标准可追溯方法
机译:可追踪原子力显微镜,用于表面粗糙度校准子纳米级顺序