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Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements
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A comparison study on the measurement of nanoparticles
机译:
纳米粒子测量的比较研究
作者:
Chen-Yu Wang
;
Shan-Peng Pan
;
Gwo-Sheng Peng
;
Jen-Hui Tsai
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
nanoparticle;
size characterization;
measurement comparison;
2.
Low-cost precision rotary index calibration
机译:
低成本精密旋转指数校准
作者:
T. W. Ng
;
T. S. Lim
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Angular rotation;
precision measurements;
machine tools;
rotary indexers;
3.
A novel Michelson interferometer combined with an autocollimator for the simultaneous measurement of linear and angular displacement
机译:
一种新型迈克尔逊干涉仪与自动调用器相结合,用于同时测量线性和角位移
作者:
Jae Wan Kim
;
Jong-Ahn Kim
;
Chu-Shik Kang
;
Tae Bong Eom
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
laser;
interferometer;
autocollimator;
length;
angle;
4.
A novel Michelson interferometer combined with an autocollimator for the simultaneous measurement of linear and angular displacement
机译:
一种新型迈克尔逊干涉仪与自动调用器相结合,用于同时测量线性和角位移
作者:
Jae Wan Kim
;
Jong-Ahn Kim
;
Chu-Shik Kang
;
Tae Bong Eom
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
laser;
interferometer;
autocollimator;
length;
angle;
5.
A comparison study on the measurement of nanoparticles
机译:
纳米粒子测量的比较研究
作者:
Chen-Yu Wang
;
Shan-Peng Pan
;
Gwo-Sheng Peng
;
Jen-Hui Tsai
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Nanoparticle;
size charzcterization;
measurement comparison;
6.
Low-cost precision rotary index calibration
机译:
低成本精密旋转指数校准
作者:
T.W.Ng
;
T.S. Lim
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
angular rotation;
precision measurements;
machine tools;
rotary indexers;
7.
Accurate roughness measurements by laser interferometer calibration, VFM-uncertainty calculations and noise reduction
机译:
激光干涉仪校准,VFM - 不确定性计算和降噪测量精确粗糙度测量
作者:
H. Haitjema
;
M.A.A.Morel
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
roughness;
uncertainty;
nano-metrology;
calibration specimen;
dynamic calibration;
noise reduction;
8.
On the Influence of Gauge Block Roughness Characteristic and Surface Treatment on Length Calibration by Optical Interferometry
机译:
压差粗糙度特性和表面处理对光学干涉测量的影响
作者:
Jennifer E. Decker
;
Peter Franke
;
Gerhard Boensch
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
gauge block;
gage block;
interferometric calibration;
interferometer;
interferometry;
measurement;
absolute length measurement;
phase change on reflection;
surface roughness;
surface texture;
9.
On the influence of gauge block roughness characteristic and surface treatment on length calibration by optical interferometry
机译:
压差粗糙度特性和表面处理对光学干涉测量的影响
作者:
Jennifer E. Decker
;
Peter Franke
;
Gerhard Boensch
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
gauge block;
gage block;
interferometric calibration;
interfermeter;
interferometry;
measurement;
absolute length measurement;
phase change on reflection;
surface roughness;
surface texture;
10.
Accurate roughness measurements by laser interferometer calibration, VFM-uncertainty calculations and noise reduction
机译:
激光干涉仪校准,VFM - 不确定性计算和降噪测量精确粗糙度测量
作者:
H. Haitjema
;
M. A. Morel
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Roughness;
uncertainty;
nano-metrology;
calibration specimen;
dynamic calibration;
noise reduction;
11.
Absolute distance metrology for space interferometers
机译:
空间干涉仪的绝对距离计量
作者:
Bas L. Swinkels
;
Abdelhalim Latoui
;
Nandini Bhattacharya
;
Arno A. Wielders
;
Joseph J. Braat
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Absolute distance metrology;
Fabry-Perot cavity;
laser stabilization;
12.
Performance assessment of involute gear measurement by CMM using a double-ball artifact
机译:
CMM使用双球伪像对渐开线齿轮测量的性能评估
作者:
Toshiyuki Takatsuji
;
Koshi Kondo
;
Aizo Kubo
;
Frank Haertig
;
Sonko Osawa
;
Kazuya Naoi
;
Tomizo Kurosawa
;
Masaharu Komori
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
gear;
coordinate measuring machine;
calibration;
double ball artifact;
13.
A new approach to determining the key comparison reference value
机译:
确定键比较参考值的新方法
作者:
N. Brown
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
CIPM MRA;
key comparisons;
key comparison reference value;
14.
Performance assessment of involute gear measurement by CMM using a double-ball artifact
机译:
CMM使用双球伪像对渐开线齿轮测量的性能评估
作者:
Toshiyuki Takatsuji
;
Koshi Kondo
;
Aizo Kubo
;
Frank Haertig
;
Sonko Osawa
;
Kazuya Naoi
;
Tomizo Kurosawa
;
Masaharu Komori
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Gear;
coordinate measuring machine;
calibration;
double ball artiface;
15.
Absolute Distance Metrology for Space Interferometers
机译:
空间干涉仪的绝对距离计量
作者:
Bas L. Swinkels
;
Abdelhalim Latoui
;
Nandini Bhattacharya
;
Arno A. Wielders
;
Joseph J.M. Braat
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
absolute distance metrology;
fabry-perot cavity;
laser stabilization;
16.
A new approach to determining the key comparison reference value
机译:
确定键比较参考值的新方法
作者:
N. Brown
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
CIPM MRA;
Key comparisons;
Key Comparison Reference Value;
17.
Ultra precision micro-CMM using a low force 3D touch probe
机译:
超精密微型CMM使用低力3D触摸探头
作者:
F. Meli
;
A. Kueng
;
R. Thalmann
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
dimensional metrology;
coordinate measuring machine;
CMM;
3D probe;
error separation;
18.
Calibration of two-dimensional nanometer gratings using optical diffractometer and metrological atomic force microscope
机译:
使用光学衍射仪和计量原子力显微镜校准二维纳米光栅
作者:
Jong-Ahn Kim
;
Jae Wan Kim
;
Byong Chon Park
;
Tae Bong Eom
;
Chu-Shik Kang
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
two-dimensional grating;
magnification standard;
optical diffractometer;
metrological atomic force microscope;
19.
Development of a two-dimensional nano-displacement measuring system utilizing a combined optical and x-ray interferometer
机译:
利用组合光学和X射线干涉仪的二维纳米位移测量系统的开发
作者:
Jinwon Park
;
Jaegeun Jo
;
Sangho Byun
;
Cheon Il Eom
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Nanometrology;
combined optical and x-ray interferometer;
calibration;
2-D displacement;
20.
Design and calibration of an elastically guided CMM axis with nanometer repeatability
机译:
具有纳米重复性的弹性引导式CMM轴的设计与校准
作者:
J. K. van Seggelen
;
P. C. Rosielle
;
P. H. Schellekens
;
H. A. Spaan
;
R. H. Bergmans
;
G. J. Kotte
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Coordinate measuring machine(CMM);
Dasign;
Calibration;
21.
Ultra precision micro-CMM using a low force 3D touch probe
机译:
超精密微型CMM使用低力3D触摸探头
作者:
F. Meli
;
A. Kueng
;
R. Thalmann
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Dimensional Metrology;
coordinate measuring machine;
CMM;
3D probe;
error separation;
22.
Use of monochromatic phase data for improved profile measurement in spectrally resolved white light interferometry
机译:
在光谱分辨的白光干涉法中使用单色相位数据进行改进的轮廓测量
作者:
S. K. Debnath
;
D. K. Sharma
;
M. P. Kothiyal
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
White light Interferometry;
spectral interferogram analysis;
surface profile;
phase shifting Interferometry;
23.
Phase-Shifting laser diode interferometry with equal phase steps using a Fabry-Perot cavity
机译:
使用法布里 - 珀罗腔的相移激光二极管干涉测量法具有等于相位步骤
作者:
Toshiyuki Takatsuji
;
Youichi Bitou
;
Hajime Inaba
;
Feng-Lei Hong
;
Atsushi Onae
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
phase-shifting interferometry;
frequency-tunable diode laser;
fabry-perot cavity;
carre algorithm;
24.
Phase-shifting laser diode interferometry with equal phase steps using a Fabry-Perot cavity
机译:
使用法布里 - 珀罗腔的相移激光二极管干涉测量法具有等于相位步骤
作者:
Youichi Bitou
;
Hajime Inaba
;
Feng-Lei Hong
;
Toshiyuki Takatsuji
;
Atsushi Onae
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
phase-shifting interferometry;
frequency-tunable diode laser;
Fabry-Perot cavity;
Carre algorithm;
25.
Design and calibration of an elastically guided CMM axis with nanometer repeatability
机译:
具有纳米重复性的弹性引导式CMM轴的设计与校准
作者:
J.K.v.Seggelen
;
P.C.J.N. Rosielle
;
P.H.J. Schellekens
;
H.A.M. Spaan
;
R.H. Bergmans
;
G.J.W.L. Kotte
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
coordinate measuring machine (CMM);
design;
calibration;
26.
Methods for evaluating the reference value in laboratory intercomparisons of dimensional measurements
机译:
评估尺寸测量实验室相结分享的参考值的方法
作者:
Jack A. Stone
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
uncertainty evaluation;
key comparison reference value;
27.
Systematic Bias Compensation for a Moire Fringe Projection System
机译:
Moire条纹投影系统的系统偏置补偿
作者:
D. Purcell
;
A. Samara
;
A. Davies
;
F. Farahi
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
projection moire;
calibration process;
28.
Size effects on stylus tip reconstruction for micro and nano roughness measurement
机译:
微型和纳米粗糙度测量触控笔尖端重建的尺寸效应
作者:
Chao-Chang A. Chen
;
Jr-Rung Chen
;
Huay-Chung Liou
;
Yen-Liang Chen
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
stylus tip reconstruction;
contact stylus;
surface roughness;
scanning probe microscopy;
29.
Methods for evaluating the reference value in laboratory intercomparisons of dimensional measurements
机译:
评估尺寸测量实验室相结分享的参考值的方法
作者:
Jack A. Stone
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
uncertainty evaluation;
comparison;
key comparison reference value;
30.
Size effects on stylus tip reconstruction for micro and nano roughness measurement
机译:
微型和纳米粗糙度测量触控笔尖端重建的尺寸效应
作者:
Chao-Chang A. Chen
;
Jr-Rung Chen
;
Huay-Chung Liou
;
Yen-Liang Chen
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
stylus tip reconstruction;
contact stylus;
surface roughness;
scanning probe microscopy;
31.
Systematic bias compensation for a moire fringe projection system
机译:
Moire条纹投影系统的系统偏置补偿
作者:
D. Purcell
;
A. Samara
;
A. Davies
;
F. Farahi
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Projection Moire;
Calibration Process;
32.
Development of a two-dimensional nano-displacement measuring system utilizing a combined optical and x-ray interferometer
机译:
利用组合光学和X射线干涉仪的二维纳米位移测量系统的开发
作者:
Jinwon Park
;
Jaegun Jo
;
Sangho Byun
;
Cheon Il Eom
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
nanometrology;
combined optical and x-ray interferometer;
calibration;
2-D displacement;
33.
Calibration of two-dimensional nanometer gratings using optical diffractometer and metrological atomic force microscope
机译:
使用光学衍射仪和计量原子力显微镜校准二维纳米光栅
作者:
Jong-Ahn Kim
;
Jae Wan Kim
;
Byong Chon Park
;
Tae Bong Eom
;
Chu-Shik Kang
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
two-dimensional grating;
magnification standard;
optical diffractometer;
metrological atomic force microscope;
34.
Use of monochromatic phase data for improved profile measurement in spectrally resolved white light interferometry
机译:
在光谱分辨的白光干涉法中使用单色相位数据进行改进的轮廓测量
作者:
S. K. Debnath
;
D. K. Sharma
;
M. P. Kothiyal
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
white light interferometry;
spectral interferogram analysis;
surface profile;
phase shifting interferometry;
35.
Automatic measurement of gauge blocks by Fourier transforming the scanned interferograms
机译:
通过傅里叶变换扫描干扰图自动测量量块
作者:
Chu-Shik Kang
;
Jae Wan Kim
;
Ho Suhng Suh
;
Won-Kyu Lee
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
gauge block;
interferometry;
Fourier transform;
fractional interference order;
fringe scanning;
36.
Automatic measurement of gauge blocks by Fourier transforming the scanned interferograms
机译:
通过傅里叶变换扫描干扰图自动测量量块
作者:
Chu-Shik Kang
;
Jae Wan Kim
;
Ho Suhng Suh
;
Won-Kyu Lee
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
gauge block;
interferometry;
fourier transform;
fractional interference order;
fringe scanning;
37.
Characterizing the performance of the PTB line scale interferometer by measuring photoelectric incremental encoders
机译:
通过测量光电增量编码器来表征PTB线尺度干涉仪的性能
作者:
Rainer Koening
;
Jens Fluegge
;
Harald Bosse
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
length comparator;
line scale interferometer;
vacuum interferometry;
incremental encoder;
non-linearity;
38.
Characterizing the performance of the PTB line scale interferometer by measuring photoelectric incremental encoders
机译:
通过测量光电增量编码器来表征PTB线尺度干涉仪的性能
作者:
Rainer Koening
;
Jens Fluegge
;
Harald Bosse
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
length comparator;
line scale interferometer;
vacuum interferometry;
incremental encoder;
non-linearity;
39.
Gaussian beam modeling of the radius of curvature
机译:
高斯光束建模的曲率半径
作者:
Kate M. Medicus
;
James Snyder
;
Angela D. Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Radius of Curvature;
Gaussian Beam;
40.
Gaussian Beam Modeling of the Radius of Curvature
机译:
高斯光束建模的曲率半径
作者:
Kate M. Medicus
;
James Snyder
;
Angela D. Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
radius of curvature;
gaussian beam;
41.
Precise certification of the temperature measuring system of the original Kosters interferometer and ways of its improvement
机译:
精确认证原始的KOSTERS干涉仪的温度测量系统和改进方式
作者:
Alexander Titov
;
Igor Malinovsky
;
Madlen Erin
;
Hakima Belaiedi
;
Ricardo dos Santos Franca
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
length;
interferometry;
gauge block;
temperature;
uncertainty;
42.
Multi-purpose extrinsic Fabry-Perot sensor with miniature dual fiber configuration
机译:
具有微型双光纤配置的多功能外在法布里 - 珀罗传感器
作者:
Jung-Tsung Chou
;
Chiung-Huei Huang
;
Ching-Ming Yeh
;
Calvin C. Chang
;
Hung-Ming Tai
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Fiber optic senor;
Fabry-Perot interferometer;
quadrature signals;
vibration measurement;
43.
A primary roundness measuring machine
机译:
主要圆度测量机
作者:
Ruedi Thalmann
;
Juerg Spiller
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
dimensional metrology;
roundness measurement;
error separation;
44.
A primary roundness measuring machine
机译:
主要圆度测量机
作者:
Ruedi Thalmann
;
Juerg Spiller
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Dimensional metrology;
roundness measurement;
error separation;
45.
Absolute distance metrology with frequency sweeping interferometry
机译:
频率扫描干涉测量学的绝对距离计量
作者:
Alexandre Cabral
;
Jose Rebordao
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
frequency sweep interferometry;
optical metrology;
multiple aperture telescopes;
DARWIN;
tunable lasers;
46.
Precise certification of the temperature measuring system of the original Koesters interferometer and ways of its improvement
机译:
精确认证原始Koesters干涉仪的温度测量系统和改进方式
作者:
Alexander Titov
;
Igor Malinovsky
;
Madlen Erin
;
Hakima Belaidi
;
Ricardo d. Franca
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Length;
interferometry;
gauge block;
temperature;
uncertainty;
47.
Multi-purpose extrinsic Fabry-Perot sensor with miniature dual fiber configuration
机译:
具有微型双光纤配置的多功能外在法布里 - 珀罗传感器
作者:
Jung-Tsung Chou
;
Chiung-Huei Huang
;
Ching-Ming Yeh
;
Calvin C. Chang
;
Hung-Ming Tai
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
fiber optic senor;
fabry-perot interferometer;
quadrature signals;
vibration measurement;
48.
Absolute distance metrology with frequency sweeping interferometry
机译:
频率扫描干涉测量学的绝对距离计量
作者:
Alexandre Cabral
;
Jose Rebordao
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
frequency sweep interferometry;
optical metrology;
multiple aperture telescopes;
DARWIN;
tunable lasers;
49.
Accurate extraction of thermal expansion coefficients and their uncertainties from high precision interferometric length measurements
机译:
从高精度干涉长度测量中精确提取热膨胀系数及其不确定性
作者:
R. Schoedel
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
thermal expansion;
expansivity;
interferometer;
absolute length measurements;
50.
The detection of cyclic nonlinearities in a ZMI2000 heterodyne interferometer
机译:
ZMI2000外差干涉仪中循环非线性的检测
作者:
Jorrit Thijsse
;
Asa K. Jamting
;
Nick Brown
;
Han Haitjema
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
51.
A fiber probe for CMM measurements of small features
机译:
CMM测量小功能的纤维探头
作者:
Jack A. Stone
;
Bala Muralikrishnan
;
John R. Stoup
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
coordinate metrology;
small hole;
microfeature metrology;
fiber probe;
52.
Nanometrology and high-precision temperature measurements under the temperature conditions varying in time temperature conditions
机译:
在温度条件下温度条件下的纳米术学和高精度温度测量
作者:
Alexandre Titov
;
Igor Malinovsky
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Length;
interferometry;
gauge block;
temperature;
uncertainty;
53.
Accurate extraction of thermal expansion coefficients and their uncertainties from high precision interferometric length measurements
机译:
从高精度干涉长度测量中精确提取热膨胀系数及其不确定性
作者:
R. Schoedel
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
thermal expansion;
expansivity;
interferometer;
absolute length measurements;
54.
Nanometrology and high-precision temperature measurements under varying in time temperature conditions
机译:
纳米术学和高精度温度测量在时间温度条件下变化
作者:
Alexandre Titov
;
Igor Malinovsky
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
length;
interferometry;
gauge block;
temperature;
uncertainty;
55.
First domestic comparison of ball plate calibration in Japan
机译:
日本球板校准的首次比较
作者:
Sonko OSAWA
;
Toshiyuki TAKATSUJI
;
Tomizo KUROSAWA
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
ball plate;
CMM;
round-robin measurement;
uncertainty;
56.
The Detection of Cyclic Nonlinearities in a ZMI2000 Heterodyne Interferometer
机译:
ZMI2000外差干涉仪中循环非线性的检测
作者:
Jorrit Thijsse
;
Asa K. Jamting
;
Nick Brown
;
Han Haitjema
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
57.
First domestic comparison of ball plate calibration in Japan
机译:
日本球板校准的首次比较
作者:
Sonko Osawa
;
Toshiyuki Takatsuji
;
Tomizo Kurosawa
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
ball plate;
CMM;
round-robin measurement;
uncertainty;
58.
A new approach of surface roughness measurement using optical method and image processing
机译:
使用光学方法和图像处理的表面粗糙度测量的一种新方法
作者:
K.P. Chaudhary
;
R.P. Singhal
;
Shashi K. Singh
;
Chandera Shakher
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
no contact measurements;
profilometery;
3D image;
conic kernel;
59.
Radius case study: optical bench measurement and uncertainty including stage error motions
机译:
RADIUS案例研究:光学台阶测量和不确定性,包括阶段误差运动
作者:
Tony L. Schmitz
;
Neil Gardner
;
Matthew Vaughn
;
Angela Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
radius;
spherical;
uncertainty;
bias;
bench;
60.
Radius case study: Optical bench measurement and uncertainty including stage error motions
机译:
RADIUS案例研究:光学台阶测量和不确定性,包括阶段误差运动
作者:
Tony L. Schmitz
;
Neil Gardner
;
Matthew Vaughn
;
Angela Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
radius;
spherical;
uncertainty;
bias;
bench;
61.
A new approach of surface roughness measurement using optical method and image processing
机译:
使用光学方法和图像处理的表面粗糙度测量的一种新方法
作者:
K. P. Chaudhary
;
R. P. Singhal
;
Shashi K. Singh
;
Chandera Shakher
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
No contact measurements;
profilometery;
3D image;
Conic Kernel;
62.
A fiber probe for CMM measurements of small features
机译:
CMM测量小功能的纤维探头
作者:
Jack A. Stone
;
Bala Muralikrishnan
;
John R. Stoup
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Coordinate Metrology;
Small Hole;
Microfeature Metrology;
Fiber Probe;
63.
Linear canonical transforms, and speckle based metrology
机译:
线性规范变换和基于斑点的计量
作者:
Damien P. Kelly
;
Robert F. Patten
;
Bryan M. Hennelly
;
Ying Liu
;
Jennifer E. Ward
;
John T. Sheridan
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Linear Canonical Transforms;
Speckle Photography;
Fractional Fourier Transform;
Optical Metrology;
Correlation;
64.
Linear Canonical Transforms, and Speckle Based Metrology
机译:
线性规范变换和基于斑点的计量
作者:
Damien P. Kelly
;
Robert F. Patten
;
Bryan M. Hennelly
;
Ying Liu
;
Jennifer E. Ward
;
John. T. Sheridan
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
linear canonical transforms;
speckle photography;
fractional fourier transform;
optical metrology;
correlation;
65.
Dynamic Range Enhancing Technique for Form, Waviness and Roughness Measurements Using Fringe Projection
机译:
使用条纹投影的形成,波纹和粗糙度测量的动态范围增强技术
作者:
Ayman Samara
;
Faramarz Farahi
;
Angela Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
fringe projection;
interferometry;
optical instruments;
surface metrology;
surface finish;
66.
The effect of phase change on reflection on optical measurements
机译:
相变对光学测量反射的影响
作者:
Kate M. Medicus
;
Anneliese Fricke
;
John E. Brodziak Jr
;
Angela D. Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Radius of Curvature;
Phase Change;
Angle of Incidence;
Interferometry;
67.
Network compensation of optical metrology for satellite formation flying
机译:
卫星形成飞行光学计量的网络补偿
作者:
Paulo J. Motrena
;
Jose M. Rebordao
;
Alexandre P. Cabral
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Formation flying;
optical metrology;
network compensation;
least squares;
satellites;
Darwin;
68.
THE EFFECT OF PHASE CHANGE ON REFLECTION ON OPTICAL MEASUREMENTS
机译:
相变对光学测量反射的影响
作者:
Kate M. Medicus
;
Anneliese Fricke
;
John Edward Brodziak Jr
;
Angela D. Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
radius of curvature;
phase change;
angle of incidence;
interferometry;
69.
Network compensation of optical metrology for satellite formation flying
机译:
卫星形成飞行光学计量的网络补偿
作者:
Paulo Jorge Motrena
;
Jose Manuel Rebordao
;
Alexandre Pereira Cabral
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
formation flying;
optical metrology;
network compensation;
least squares;
satellites;
Darwin;
70.
Dynamic range enhancing technique for form, waviness and roughness measurements using fringe projection
机译:
使用条纹投影的形成,波纹和粗糙度测量的动态范围增强技术
作者:
Ayman Samara
;
Faramarz Farahi
;
Angela Davies
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Fringe projection;
interferometry;
optical instruments;
surface metrology;
surface finish;
71.
Bootstrap calibration of an autocollimator, index table and sine bar ensemble for angle metrology
机译:
用于角度计量的自动调用器,索引表和正弦栏集合的引导校准
作者:
James R. Pekelsky
;
Lome E. Munro
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
angle metrology;
calibration;
uncertainty;
traceability;
autocollimator;
index table;
sine-bar interferometer;
72.
Uncertainty evaluation of a fiber-based interferometer for the measurement of absolute dimensions
机译:
基于纤维的干涉仪测量绝对尺寸的不确定性评价
作者:
Vivek G. Badami
;
Todd Blalock
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
low-coherence;
interferometer;
high-accuracy;
uncertainty estimate;
laser;
absolute dimensions;
73.
Uncertainty evaluation of a fiber-based interferometer for the measurement of absolute dimensions
机译:
基于纤维的干涉仪测量绝对尺寸的不确定性评价
作者:
Vivek G. Badami
;
Todd Blalock
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
Low-coherence;
interferometer;
hitgh-accuracy;
uncertainty estimate;
laser;
absolute dimensions;
74.
Bootstrap calibration of an autocollimator, index table and sine bar ensemble for angle metrology
机译:
用于角度计量的自动调用器,索引表和正弦栏集合的引导校准
作者:
James R. Pekelsky
;
Lorne E. Munro
会议名称:
《Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements》
|
2005年
关键词:
angle metrology;
calibration;
uncertainty;
traceability;
autocollimator;
index table;
sine-bar interferometer;
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