optoelectronics; characterisation; optical (modulated reflectivity) spectroscopy; microcavities;
机译:光电器件结构中的反射率和调制光谱线型分析
机译:通过反射率和光调制反射率表征760 nm垂直腔面发射激光器结构
机译:使用光调制反射率表征2.3μm基于GaInAsSb的垂直腔面发射激光器结构
机译:使用调制反射率的垂直腔光电器件和结构的光谱表征的研究进展
机译:垂直腔多量子阱光电调制器的系统应用。
机译:光电器件中的光栅结构轻管理
机译:利用光调制反射率表征基于2.3μm GaInAsSb的垂直腔面发射激光器结构