solders; crystal microstructure; electroplated coatings; thermal stresses; diffusion; soldering; ageing; tin alloys; silver alloys; tin; copper; microstructure; solder/electroplated layer interface reaction; high temperature exposure; solder/substrate inter-diffusion; soldering; aging; intermetallic compound; IMC layer growth kinetic; activation energy; lead-free solder; electroplated Ni plating; 1000 h; 70 degC; 120 degC; 170 degC; SnAg-Ni-Cu; Ni/sub 3/Sn/sub 4/; Cu/sub 6/Sn/sub 5/; Ag/sub 3/Sn;
机译:Ni层厚度和焊接时间对熔融Sn-3.5Ag与Ni / Cu基体界面金属间化合物形成的影响
机译:Ni层厚度和焊接时间对Moiten Sn-3.5Ag与Ni / Cu基体界面金属间化合物形成的影响
机译:在Sn-3.5Ag焊料/化学镀Ni-P的Cu衬底系统中形成的初始界面反应层
机译:高温暴露下Sn-3.5Ag焊料与Cu衬底上电镀Ni层的微观结构和界面反应
机译:液相扩散键合和用于高温无铅电气连接的Cu-Ni / Sn复合焊膏的开发
机译:固态时效期间Sn-3.0Ag-0.5Cu焊料与FeCoNiCrCu0.5衬底之间的界面处(FeCrCoNiCu)Sn2金属间化合物的生长受到抑制
机译:基材和Ni电镀层Cu溶解对Sn-3.5Ag焊料微快报的粘合强度的影响