Verfahren zur anwendungsspezifischen Sicherstellung der Zuverlassigkeit von Leistungshalbleiter-Bauelementen

摘要

In Folge von v. a. Schalt- und Durchlassverlusten entsteht in Leistungshalbleitern im Betrieb belastungsabhangig Warme. Diese fuhrt zur Temperaturerhohung im Bauteil und damit zu dessen Alterung, so dass seine Lebensdauer durch diverse Ausfallmechanismen - wie zum Beispiel Bondablosung oder Delamination der Chips vom Substrat - begrenzt ist. Es ist daher unabdingbar, die Bauelemente so zu dimensionieren, dass sie eine hinreichende Zuverlassigkeit innerhalb der vorgesehenen Lebensdauer des Systems erwarten lassen. Neue Anwendungen der Elektromobilitat oder im Energieversorgungsnetz erweisen sich hier aufgrund hoher Zuverlassigkeitsanforderungen sowie langer Betriebsdauer als anspruchsvoll.