机译:近红外散射形貌和显微镜粘合硅与绝缘体晶片中覆盖氧化物的表征
机译:通过使用近红外显微镜控制光源的相干长度来表征绝缘体上键合硅晶片中的空隙
机译:植入氧晶片中绝缘体上硅层中电子陷阱状态的深入剖析以及绝缘体上硅/埋入氧化物界面附近的局部机械应力
机译:近红外散射形貌和显微镜粘合硅与绝缘体晶片中图案氧化物埋藏的针孔的特征
机译:高电阻率硅块体和绝缘体上硅片的表征。
机译:还原氧化石墨烯薄膜的晶圆级高分辨率图案化用于检测血浆中的低浓度生物标志物
机译:用动力力显微镜对化学键合在硅片上的有机硅烷自组装单分子膜的结构表征