Thick films; Ag migration; Pd-Ag;
机译:通过恒定温度下的加速电迁移测试估算集成电路铝金属化的可靠性
机译:加速电迁移测试过程中具有厚的凸点金属化的倒装芯片焊点的三维热电模拟
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机译:加速测试以模拟混合电路中的金属迁移
机译:模拟和测试异步电路
机译:采用渐进式混合检查的逐步应力部分加速寿命试验中掩盖式混合系统寿命数据的统计分析
机译:常规加速腐蚀试验的问题,以及新型加速腐蚀试验的开发新加速腐蚀试验模拟电器环境(2) -