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Chemo-Mechanical Grinding に関する研究(第5 報:Φ300mm ウエハの表面創成)

机译:化学机械研磨研究(验证:Φ300mm晶圆清洗)

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摘要

本研究は,加工変質層のない固定砥粒加工法の確立を目標に, 化学作用を積極的に研削工程に取り入れたChemo-Mechanical-Grinding (CMG)プロセスの開発を行っている.前報1)では,Si ウエハと反応性のある砥粒及び添加剤を含有したCMG 砥石を試作し,加工変質層の低減に成功した.本報では,さらにCMG 砥石の加工特性を改善し,Φ300mm の大口径Si ウエハの研削に適用し,加工表面及びその亜表面(サブサーフェス)について評価を行った.その結果,固定砥粒加工法で初めて加工変質層の無い表面を創成することができたので,内容を報告する.
机译:在该研究中,我们正在开发一种化学机械研磨(CMG)过程,其主动地掺入化学作用,在没有加工简并层建立固定磨料过程。在先前的报告1)中,原型含有磨料颗粒和具有反应性Si晶片的添加剂的CMG磨石,并成功降低了加工改变层的还原。在本报告中,CMG磨石的处理特性进一步改善,施加到具有300mm的大孔径Si晶片的研磨,并评估处理表面及其子表面(子表面)。结果,由于可以通过固定的研磨方法首次在没有处理改变层的情况下产生表面,因此报告了内容。

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