首页> 外文会议>電気学会全国大会 >チップ上の温度勾配の検知にPTAT電圧発生回路を用いた電流制御回路の試作と実測
【24h】

チップ上の温度勾配の検知にPTAT電圧発生回路を用いた電流制御回路の試作と実測

机译:使用PTAT电压产生电路对电流控制电路的原型和测量,用于检测芯片温度梯度

获取原文

摘要

近年、スマートフォンに実装されているリチウムイオン電池の爆発、発火が社会問題となっている。この問題の原因の一つとして、充電電流をコントロールする制御回路の誤作動による電池への過充電が挙げられる。今回、誤作動の一因であるチップ上の温度変化に着目した。この問題を解決するためにチップ上の温度を監視する温度センサの必要性が増している。また、小型な電子機器での用途において、センサ回路は小面積かつ低消費電力であることが求められる。本研究の目的は、温度センサが高い温度を検知した際、電池に流れる充電電流を小さくすることでチップ上の温度を一定に保ち、誤作動を防ぐことである。
机译:近年来,在智能手机上实施的锂离子电池爆炸,点火是一个社会问题。通过控制充电电流的控制电路故障,该问题的原因之一是对电池过充电。这次,我专注于芯片上的温度变化,这是一个故障的点。为了解决这个问题,需要监控芯片温度的温度传感器正在增加。另外,在具有紧凑型电子设备的应用中,传感器电路需要小面积和低功耗。本研究的目的是通过减少温度传感器检测到高温时,将温度保持在芯片常数上的温度,并防止故障流过电池。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号