机译:ITO薄膜的电导率的稳定性/不稳定性以及在空气或真空中紫外线照射下的ITO薄膜的功函数变化通过四探针法和开尔文力显微镜进行测量
机译:使用开尔文探针系统测量微/纳米结构材料电子功函数的新方法
机译:同时确定MOS晶体管中表面载流子迁移率和金属-半导体功函数差的新方法
机译:基于开尔文探头和光电效应测量的真正工作功能确定金属表面的新方法
机译:使用原位Kelvin探针研究滑动金属表面的变化。
机译:开尔文探针力显微镜功函数在过渡还原和氧化作用下表征过渡金属氧化物晶体
机译:用于卡西米尔力的金属表面的开尔文探针力显微镜 测量
机译:Cesiated金属表面的光电功函数测量及其与表面产生的H exp - 离子通量的相关性