Screening und Run-In komplexer Elektronik anhand des neuen LHC BLM Verarbeitungsmoduls: Environmental Stress Screening von Fruhausfallen und Zuverlassigkeitstests einer komplexen bestuckten Leiterplatte

摘要

Screening und Run-In Tests im Rahmen einer umfangreichen Entwicklungs- und Testmethodik stellen die Zuverlassigkeit bei Inbetriebnahme des VFC-HD, einer komplexen bestuckten Leiterplatte (PCBA = Printed Circuit Board Assembly) fur Datenverarbeitung des Large Hadron Collider (LHC) Beam Loss Monitoring (BLM) Systems sicher. Die angepasste zweiteilige Teststrategie verwendet erhohten Temperaturwechselstress, um mogliche Fruhausfalle beschleunigt herauszufiltern und dadurch den Bereich der nutzbaren Lebensdauer der Badewannenkurve mit einer niedrigeren Ausfallrate zu erreichen. Ein anschliessendes Einlaufen (Run-In) bei Nominalbedingungen sichert den Screeningerfolg ab und dient der quantitativen Zuverlassigkeitsbestimmung.