Mit NI LabVIEW, NI DIAdem und Data Finder Server Edition zur strukturierten Ablage heterogener Messdaten von Silicon Drift Detektoren

摘要

Die Firma KETEK stellt Silicon Drift Detektoren (SDDs) fur die Rontgen-Spektroskopie her. Bei der Prufung dieser Module entstehen komplexe Messdaten mit unterschiedlichen Ergeb-nisgrossen. Mit NI LabVIEW, NI DIAdem und dem Data Finder Server Edition war es moglich, diese strukturiert und sicher im TDMS-Format abzulegen und eine statistische Prozesslenkung und kontrolle einzufuhren.