built-in self test; micromechanical devices; production testing; sensitivity analysis; accelerometers; modal analysis; multimodal built-in self test; symmetric microsystems; mathematical model analysis; symmetrical MEMS microstructure; BIST modulation technique; local manufacturing variations; sensitivity; linear etch variation; accelerometers;
机译:基于破碎和突变体的内置自我测试和计数基于阈值的内置自修复机制,用于存储器
机译:气囊应用-包含硅电容式加速度计,CMOS开关电容电子和真正的自测能力的微系统
机译:Symbist:基于对称的模拟和混合信号内置的功能安全性的自检
机译:对称微系统的多模式内置自检
机译:用于多阈值NULL约定逻辑(MTNCL)电路的内置自检(BIST)
机译:具有数字内置自检功能的MEMS加速度计的ΣΔ闭环接口
机译:Symbist:基于对称的模拟和混合信号内置的功能安全性的自检