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机译:使用透射光谱的连续干涉条纹确定半透明薄膜的光学常数和厚度
机译:单传输测量测定结晶SRXBA1-XNB2O6薄膜光学常数和厚度
机译:通过低能电子衍射确定过渡金属单晶表面上生长的晶体离子薄膜的表面结构。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:通过反射率,透射率和膜厚测量来确定蒸发金属膜的近红外中的光学常数
机译:低能电子衍射法在过渡金属单晶表面生长的结晶离子薄膜的表面结构测定