首页> 外文会议>International Beijing conference and exhibition on instrumental analysis >The super STEM: an aberration corrected analytical microscopy facility

【24h】

The super STEM: an aberration corrected analytical microscopy facility

机译：超级杆：一种像差校正分析显微镜设施

获取原文

页面导航

著录项
相似文献
相关主题

著录项

来源
《International Beijing conference and exhibition on instrumental analysis》|2003年||共4页
会议地点
作者
(missing);
展开▼
作者单位

展开▼
会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类仪器、仪表;
关键词
入库时间 2022-08-20 19:33:01

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Nanostructural and chemical characterization of supported metal oxide catalysts by aberration corrected analytical electron microscopy [J] . Zhou W., Wachs I.E., Kiely C.J. Current opinion in solid state & materials science . 2012,第1期

机译：像差校正分析电子显微镜对负载型金属氧化物催化剂的纳米结构和化学表征
2. Aberration corrected analytical electron microscopy studies of sol-immobilized Au + Pd, Au{Pd} and Pd{Au} catalysts used for benzyl alcohol oxidation and hydrogen peroxide production [J] . R. C. Tiruvalam, J. C. Pritchard, N. Dimitratos, Faraday discussions . 2011,第Null期

机译：用于苯甲醇氧化和过氧化氢生产的溶胶固定的Au + Pd，Au {Pd}和Pd {Au}催化剂的像差校正分析电子显微镜研究
3. Characterisation of InAs/GaAs short period superlattices using column ratio mapping in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy [J] . Paul D. Robb, Michael Finnie, Alan J. Craven Micron: The international research and review journal for microscopy . 2012,第10期

机译：像差校正扫描透射电子显微镜中使用列比映射法表征InAs / GaAs短周期超晶格
4. The super STEM: an aberration corrected analytical microscopy facility [C] . (missing) International Beijing conference and exhibition on instrumental analysis . 2003

机译：超级杆：一种像差校正分析显微镜设施
5. Aberration Corrected Analytical Electron Microscopy Studies of Nanometallic Catalysts [D] . Althahban, Sultan M. 2018

机译：纳米金催化剂的像差校正分析电子显微镜研究
6. Aberration-corrected cryoimmersion light microscopy [O] . Raffaele Faoro, Margherita Bassu, Yara X. Mejia, 2018

机译：像差校正的低温浸没显微镜
7. Characterization of Ni-base Superalloys on the Atomic Scale by Atom Probe Tomography and Spherical-Aberration Corrected Analytical Electron Microscopy Techniques [O] . M Watanabe, D Saxey, R Zheng, 2006

机译：原子探针断层扫描和球面畸形校正分析电子显微镜技术原子尺度对Ni基超合金的表征

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号