X-ray diffraction; amorphous semiconductors; annealing; crystal defects; crystallisation; elemental semiconductors; grain growth; hydrogen; nucleation; plasma CVD; semiconductor growth; semiconductor thin films; silicon; transmission electron microscopy; 600 C; FWHM; HW;
机译:热线化学气相沉积a-Si:H膜的快速热退火:膜中氢含量对结晶动力学,表面形态和晶粒生长的影响
机译:HWCVD和PECVD a-Si:H薄膜结晶过程中晶粒成核和晶粒生长的比较
机译:结晶的监测以及沉积速率,氢含量和退火工艺对热丝化学气相沉积氢化非晶硅(a-si:h)薄膜结晶的影响
机译:薄膜氢含量和沉积类型对A-Si:H薄膜结晶过程中晶粒成核和晶粒生长的影响
机译:金属诱导的a-硅:氢结晶导致的大晶粒多晶硅薄膜。
机译:直流电沉积在(111)纳米孪晶Cu膜中各向异性晶粒生长
机译:HWCVD和pECVD a-si:H薄膜晶化过程中晶粒成核与晶粒长大的比较
机译:膜氢含量和沉积类型对a-si:H薄膜晶化过程中晶粒成核和晶粒长大的影响