Residual Stress; X Ray Diffraction; Repeatability; Reproducibility;
机译:薄膜的非环境X射线衍射残余应力分析:追踪纳米尺寸对热弹性常数的影响并确定残余应力的来源
机译:超声波法测量残余应力的最新进展。错误的主要来源
机译:通过能量色散X射线衍射控制残余应力分析中的几何误差源
机译:X射线衍射测量残余应力的误差分析与不确定性源的研究
机译:使用微X射线衍射测量和分析氧化锆牙科复合材料中的残余应力。
机译:大晶粒多晶材料中残余应变的中子衍射测量不确定度的确定和缓解
机译:X射线衍射测量残余应力的误差分析与不确定性源的研究