机译:JEDEC跌落测试条件下的芯片级封装的板级可靠性实验研究
机译:薄板上芯片(COB)封装的各向异性导电膜(ACF)倒装芯片组件的热循环(T / C)可靠性研究
机译:基于Cu引线框架的层压芯片嵌入技术,系统内包装的芯片包装板可靠性
机译:芯片级封装或板上芯片的权衡研究
机译:溅射法制备CZTS太阳能电池循环弯曲过程中测量ITO薄膜电阻变化的实验技术使用板级跌落试验研究晶圆级芯片规模封装的可靠性。
机译:ChIPpeakAnno:用于标记ChIP-seq和ChIP芯片数据的生物导体包装
机译:ChipSeqspike:根据峰值控制的芯片-SEQ数据缩放的R / Biocumond封装
机译:光学引导基板,用于堆叠多芯片模块和芯片级封装中的低成本光互连