Films; Thickness; Ellipsometer;
机译:椭圆偏振光谱仪评估脉冲激光沉积等离子体铜薄膜的界面层厚度
机译:通过光谱椭圆仪评估脉冲激光沉积等离子体铜薄膜的界面层厚度
机译:椭圆偏振光谱仪非接触测量硅化钛薄膜的厚度
机译:使用VUV能力光谱椭圆仪的SION,HFSION栅极膜的内联组合物和厚度控制
机译:紫外扩展实时椭偏仪的研制及其在氮化硼薄膜表征中的应用
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:光谱椭偏仪测定电沉积氧化铝薄膜的光学性质
机译:新型原位光谱椭偏仪用于CVD金刚石薄膜的实时分析。