silicon; elemental semiconductors; spectral methods of temperature measurement; rapid thermal processing; semiconductor technology; pyrometers; thermometers; emissivity compensated pyrometry; silicon surfaces; NIST RTP test bed; pyrometric thermometry; rapid thermal processing; surface emissivity; reflectometer; metal organic chemical vapor deposition; MOCVD; compound semiconductors; National Institute of Standards and Technology; Si;
机译:发射率补偿光谱高温法用于变化的发射率金属测量
机译:发射率补偿光谱高温测定算法和灵敏度分析
机译:补偿非朗伯投影面的镜面高光
机译:NIST RTP测试台上镜面硅表面的发射率补偿高温测定法
机译:用于发射率测绘和粉末融合系统精确表面温度测量的多波长热测定
机译:对镜面硅晶圆背面区域的图像堆栈进行分类:CNN和SVM的性能比较
机译:2005年:通过卫星观测计算微波地表发射率:无雪面上镜面近似的有效性