amorphous; solid-phase crystallization (SPC); silicon-germanium (SiGe); low-pressure chemical vapor deposition; electrical properties;
机译:Ga掺杂浓度,衬底温度和工作压力对ZnO薄膜电学和光学性能的影响
机译:沉积和退火条件对LPCVD硅薄膜结构和电性能的影响
机译:低压化学气相沉积氮化硅薄膜在高达650°C的温度下的电性能
机译:压力和温度对LPCVD硅 - 锗薄膜电性能的影响
机译:掺杂氧化锌薄膜的大气压化学气相沉积及其电学和光学性质。
机译:等离子体增强原子层沉积在低温下沉积的HfO2薄膜的结构光学和电学性质
机译:低温下LPCVD氮化硅薄膜的力学性能表征
机译:10-50 nm TEOs(四乙氧基硅烷)LpCVD(低压化学气相沉积)薄膜的电学特性