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Case study: Combined Dynamic Laser Stimulation and Static Emission Microscopy techniques applied to Scan Test failure on Mixed Mode device

机译:案例研究:组合动态激光刺激和静态发射显微镜技术应用于混合模式装置上的扫描试验失效

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摘要

This paper presents a case study on scan test reject in a mixed mode IC. It focuses on the smart use of combined mature FA techniques, such as Soft Defect Localization (SDL) and emission microscopy (EMMI), to localize a random scan test anomaly at the silicon bulk level.
机译:本文介绍了混合模式IC中扫描试验拒绝的案例研究。它侧重于智能使用组合成熟的FA技术,例如软缺陷定位(SDL)和发射显微镜(EMMI),以定位在硅散装水平的随机扫描测试异常。

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