机译:增加高温超导体中临界电流的一种方法:中子辐照
机译:热退火和辐照损伤对纳米晶γ-Mo_2N薄膜超导临界温度的影响
机译:通过质子辐照使高温超导涂层导体的临界电流密度加倍
机译:利用辐射损伤增加高温超导体中的临界电流
机译:了解为什么谷物边界限制了Fe基超导体的临界电流密度,并探讨了提高电流密度的方法
机译:Ba1-xKxFe2As2超导体中临界温度和临界电流密度的不同掺杂依赖性
机译:低温测量的实验技术:低温测量的低温设计,材料性能和超导体临界电流测试实验技术,用于低温测量:低温恒温器设计,材料特性和超导体临界电流测试,杰克W. ekin,牛津U.按,纽约,2006年。$ 125.00(673 pp)。 ISBN 978-0-19-857054-7