NBTI; on-chip sensors; macro-models; calibration;
机译:AC NBTI应力导致的电路级可靠性下降
机译:NBTI对用于逻辑应用的14 nm节点FinFET技术影响的仿真研究:器件降级到电路级交互
机译:NBTI在模拟电路中的退化和恢复:准确而高效的电路级建模
机译:用于协作可靠性监控的电路级NBTI宏模型
机译:研究氧化物击穿,热载流子和NBTI对MOS器件和电路可靠性的影响。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:协作机器人监测系统的提议预测停电并评估利用机器学习的可靠性因素