机译:使用硬片上系统优化部分堆叠/完整堆叠的三维堆叠集成电路中的测试架构
机译:集成电路和系统的设计,技术和测试专刊
机译:基于内核的片上系统集成电路的热安全测试计划
机译:从(集成)电路到五十年来芯片系统系统:如何和将(IC)测试技术继续追随?
机译:使用测试数据压缩和内置的自检功能来减少片上系统集成电路的测试数据量。
机译:微压印技术制造的全集成湿度传感器片上系统
机译:超大型集成电路中缩小CU互连的新技术。超大型集成电路镀铜系统的前景。
机译:VHsIC(超高速集成电路)技术对自动测试系统的影响