Ferroelectric; HfO2; Process variation; FeFET; FinFET; Reliability; Nonvolatile Memory; NVM; TCAD;
机译:功函数变化,线边缘粗糙度和铁电特性变化对负电容FET的影响
机译:FinFET技术中用于量化不同随机变化源影响的器件级表征方法
机译:陷阱充电变化对缩放铁电FET非易失性存储器的影响
机译:对深层铁电FET中器件间变化的基本理解和控制
机译:商业信心的政治来源:党派政治,全球化和制度变迁对先进资本主义民主国家企业经济预期的影响。
机译:从纤毛虫单细胞分析中分辨SSU rDNA序列变异的来源:拷贝数变异和实验误差的影响
机译:一种设备级特征方法,以量化不同随机变化源在Finfet技术的影响
机译:伊利诺伊州季节性天气条件的长期变化及其对作物211生产和水资源的影响