Circuit faults; Adders; Circuit testing; Approximate computing; Tools; Test pattern generators;
机译:通过布尔可满足性自动生成测试模式以测试桥接故障
机译:使用布尔可满足性生成测试模式
机译:布尔可满足性在开关级电路验证和测试中的应用
机译:基于布尔满足性的近似电路测试模式
机译:基于可满足性的顺序测试生成和混合寄存器传输/门级电路可测试性的设计。
机译:基于极限学习机的模拟电路故障检测测试生成算法
机译:基于布尔可满足性的高质量测试模式生成的鲁棒算法
机译:用于计算自动测试模式生成(aTpG)和可满足性的所有解决方案的决策选择和相关学习。